微波射频在片测量是指使用探针直接测量晶圆（Wafer）或裸芯片（Chip）的微波射频参数。相比于常规的键合/封装后的测量，微波射频在片测量消除了封装及键合丝引入的寄生参数，可以更准确的反应被测芯片的射频特性。微波射频在片测量广泛应用于器件建模、芯片检验等领域。
随着5G、汽车雷达等技术的发展，在片测试也进入了亚毫米波/太赫兹频段，对在片测试技术提出了更高的挑战。